Il existe plusieurs méthodes pour le diagnostic des défauts du testeur de relais microinformatisés :
1. Diagnostic de la tendance de probabilité
La méthode de diagnostic de tendance probabiliste utilise l’ensemble de paramètres clés correspondant au phénomène anormal pour établir la trajectoire de probabilité de chaque variation de paramètre et de dommage défaillance sur la base des données historiques, puis compare l’espace d’état probabiliste multi-paramètres actuel afin d’évaluer l’état de santé actuel et d’analyser la tendance. En effectuant une interférence entre l’espace de probabilité des paramètres actuels et l’espace de probabilité de l’état de dommage connu pour réaliser un jugement quantitatif du dommage, on peut vérifier intuitivement les problèmes clés du (micro-ordinateur) testeur de protection différentielle.
2. Analyse de diagnostic basique
L’analyse diagnostique de base consiste à établir le mode de réponse dynamique de l’objet observé, à partir de la sortie de réponse du système actuel, à identifier les paramètres, à comparer les caractéristiques statistiques des paramètres dans un état normal, puis à effectuer le mode de défaillance pour confirmer si le testeur de relais microinformatique est en bon état. Cette méthode offre une approche différente de l’analyse de tendance probabiliste, permettant ainsi d’obtenir rapidement un effet d’alarme.
Trois, diagnostic complet
Cette méthode de diagnostic utilise des paramètres provenant de diverses séries d’informations résonnantes, des informations de capteurs et une combinaison d’informations historiques et empiriques pour analyser l’autodiagnostic du testeur de relais microinformatique, afin de réduire les erreurs dans le travail et d’améliorer efficacement la précision. C’est le meilleur choix pour la fusion de données.